浏览器自带分享功能也很好用哦~器件性能及光谱测试
针对MEMS传感器性能指标，，，，尊龙时凯提供以椭偏测试、、、、光谱测试、、、激光多普勒测振等测试项目，，，，可对材料膜厚、、、折射率、、、吸收率、、、、透光度、、光波强度、、、振动模态等性能指标进行更准确测量，，，，以保障MEMS芯片工艺质量和器件性能。。。。
傅里叶红外光谱测试 | |
光谱范围：2.5μm~25μm | 测量模式：腔室测量、、贴近测量 |
分辨率：＞2cm-1 | 信噪比：RMS优于150000:1 |
利用光干涉原理，，，，傅里叶变换红外光谱仪（FTIR）可获取光源频率和强度信息，，，，有效克服分辨能力低、、、、输出光量小等问题，，，，适用于元素分析、、、、谱线测量、、、、气/液体特征测试、、、漫反射测试等。。
器件性能及光谱测试
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分辨率：＞2cm-1 | 信噪比：RMS优于150000:1 |
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