浏览器自带分享功能也很好用哦~器件性能及光谱测试
针对MEMS传感器性能指标，，尊龙时凯提供以椭偏测试、、、光谱测试、、、激光多普勒测振等测试项目，，，，可对材料膜厚、、、、折射率、、吸收率、、透光度、、、光波强度、、、、振动模态等性能指标进行更准确测量，，以保障MEMS芯片工艺质量和器件性能。。。
分光光度测试 | |
光谱范围：185~3600nm | 光谱带宽：0.1~8nm，，，8段转换（UV/Vis） 0.2~32nm，，，，10段转换（NIR） |
分辨率： ±0.1nm | |
通过对可见光、、、紫外光的分光功能，，分光光度计可以完成器件透过光的强度检测，，，，根据不同物质对不同波长光线的吸收情况，，，实现对MEMS光学膜的反射率、、透射率测量。。。。
器件性能及光谱测试
针对MEMS传感器性能指标，，，尊龙时凯提供以椭偏测试、、、光谱测试、、激光多普勒测振等测试项目，，，，可对材料膜厚、、、、折射率、、、、吸收率、、透光度、、、、光波强度、、、振动模态等性能指标进行更准确测量，，以保障MEMS芯片工艺质量和器件性能。。。。
分光光度测试 | |
光谱范围：185~3600nm | 光谱带宽：0.1~8nm，，8段转换（UV/Vis） 0.2~32nm，，10段转换（NIR） |
分辨率： ±0.1nm | |
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